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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
传统FIB-SEM只能使用一种或两种离子束。
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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB
SEM:分辨率:3.5nm at 30kV高真空模式、ESEM环境真空模式 SEM:加速电压200V-30kV FIB:分辨率 7nm at 30kV; FIB:加速电压 2-30kV
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求,其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优秀的分析工具。
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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求,其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优秀的分析工具。
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日本电子JIB-4700F双束扫描电镜系统(FIB-SEM)
产品特点:双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。
日本电子株式会社(JEOL) 400-6699-117 转 6205免费咨询 -
泰斯肯SOLARIS 氙离子源双束FIB-SEM扫描电镜,TESCAN FIB-SEM
新型 iFIB+™ Xe 等离子 FIB 镜筒具有无与伦比的视野,可实现极大面积的截面加工;5. 新一代 SEM 镜筒内探测器结合高溅射率 FIB,实现超快三维微分析;6.
深圳市心怡创科技有限公司 400-6699-117 转 8797免费咨询 -
GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)
观察和FIB纳米加工)·单极60°电磁物镜设计,绝佳的SEM分辨率 ·一流的多种成像模式—大视场模式,分辨率模式以及景深模式—这些功能都基于TESCAN独有的大视场光学系统设计 ·马达控制的精准样品台,
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Scios 3 FIB-SEM超高分辨率分析型聚焦离子束扫描电子显微镜
Scios 3 FIB-SEM 技术参数Scios 3C FIB-SEMScios 3S FIB-SEM型号类别参数参数30 keV 时 STEM 分辨率为 0.7 nm1 keV 时分辨率为 1.4
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fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱(FIB-SIMS)
将 fibTOF 与 FIB-SEM 显微镜集成,可在保持高质量成像和 SEM/EDX 功能的同时进行 SIMS 测量。
TOFWERK中国 400-6699-117 转 6239免费咨询
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